دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)

میکروسکوپ کاوشگر اسکن: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریانات (NanoScience and Technology)

زبان : English

نویسندگان : Adam Foster, Werner A. Hofer

ناشر : Springer

سال انتشار : 2006

ISBN (شابک) : 9780387400907, 0387400907

ویرایش : [1 ed.]

سری : NanoScience and Technology

تعداد صفحات : 291

حجم : 8 مگابایت

فرمت کتاب : pdf

قیمت : 36000 تومان