دانلود کتاب Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

تحلیل فیلم نازک توسط اشعه ایکس پراکندگی

زبان : English

نویسندگان : Birkholz M., Fewster P.F., Genzel C.

ناشر :

سال انتشار : 2006

ISBN (شابک) : 0470091266, 9780470091265, 9780470091272

ویرایش : [1st edition]

سری : Wiley Series in Materials for Electronic & Optoelectronic Applications

تعداد صفحات : 381

حجم : 5 مگابایت

فرمت کتاب : pdf

قیمت : 36000 تومان