دانلود کتاب Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices
اندازه گیری و مدل سازی دستگاه های ساختار متقابل سیلیکون
زبان : English
نویسندگان : John D. Cressler
ناشر : CRC-Press
سال انتشار : 2007
ISBN (شابک) : 9781420066920, 1420066927
ویرایش : [1 ed.]
سری : Chapman & Hall/CRC Computer & Information Science Series
تعداد صفحات : 200
حجم : 3 مگابایت
فرمت کتاب : pdf
قیمت : 36000 تومان