دانلود کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

آزمایش نقص گرا برای Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

زبان : English

نویسندگان : Jose Nazario

ناشر : Springer

سال انتشار : 2007

ISBN (شابک) : 9781580535373, 1580535372

ویرایش : [2nd ed.]

سری : Frontiers in Electronic Testing

تعداد صفحات : 340

حجم : 6 مگابایت

فرمت کتاب : pdf

قیمت : 36000 تومان