دانلود کتاب The Test access port and boundary-scan architecture
پورت دسترسی تست و معماری اسکن مرز
زبان : English
نویسندگان : Jeffrey Liker, David Meier
ناشر : IEEE Computer Society Press
سال انتشار : 1991
ISBN (شابک) : 9780071448932, 0071448934
ویرایش : [1 ed.]
سری : IEEE Computer Society Press tutorial
تعداد صفحات : 394
حجم : 9 مگابایت
فرمت کتاب : pdf
قیمت : 36000 تومان