دانلود کتاب Thin film analysis by X-ray scattering
تجزیه و تحلیل فیلم نازک توسط پراکندگی اشعه X
زبان : English
نویسندگان : Mario Birkholz
ناشر : Wiley-VCH
سال انتشار : 2006
ISBN (شابک) : 9783527310524, 3527310525
ویرایش :
سری :
تعداد صفحات : 370
حجم : 5 مگابایت
فرمت کتاب : pdf
قیمت : 36000 تومان