دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
میکروسکوپ کاوشگر اسکن: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریانات
زبان : English
نویسندگان : Adam Foster, Werner A. Hofer
ناشر : Springer
سال انتشار : 2006
ISBN (شابک) : 9780387400907, 0387400907
ویرایش : [1 ed.]
سری : NanoScience and Technology
تعداد صفحات : 291
حجم : 4 مگابایت
فرمت کتاب : djvu
قیمت : 36000 تومان