دانلود کتاب Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces

میکروسکوپ نیروی اسکن با کاربردهایی در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی

زبان : English

نویسندگان : Dror Sarid

ناشر : Oxford University Press, USA

سال انتشار : 1994

ISBN (شابک) : 019509204X, 9780195092042, 9781423734567

ویرایش : [Rev Sub ed.]

سری : Oxford Series in Optical and Imaging Sciences

تعداد صفحات : 284

حجم : 12 مگابایت

فرمت کتاب : pdf

قیمت : 36000 تومان